Associate Professor
Information Security Engineering Laboratory , Informaton Science Division, Nara Institute of Science and Technoloy.
e-mail: fujimoto.daisuke[at]naist.ac.jp

Biography

• 1986.04 Born in Inami town, Hyogo, Japan
• 2009.03 Bachelor(Engineering), Kobe University
• 2011.03 Master(Engineering), Kobe University
• 2014.03 Ph.D(Engineering), Kobe University
• 2014.04-2015.05 Post doctoral researcher, Prof. Nagata Lab., Kobe University
• 2015.06-2017.03 Post doctoral researcher, Prof. Matsumoto Lab., Yokohama National University (YNU)
• 2017.04-2023.05 Assistant Professor, Nara Institute of Science and Technology (NAIST)
• 2017.09-2024.03 IAS Visiting Assistant Professor, Institute of Advanced Sciences, Yokohama National University (YNU)
• 2023.06- Associate Professor, Nara Institute of Science and Technology (NAIST)
• 2024.04- Invited senior researcher of Cyber Physical Security Research Center, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST)

Research Theme

Committee

• 2019.02 - 2021 Technical Committee, Asian Hardware Oriented Security and Trust Symposium
• 2021.06 - 2023.05 Secretary, IEICE Hardware Security (HWS研究会)
• 2023.01 - Present Secretary, IEEE Kansai Chapter, Membership development committee
• 2023.06 - Present Comittee, IEICE Hardware Security (HWS研究会)
• 2023.06 Technical Program Committee, Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC2024)
• 2024.04 Registration Chair, Asian Hardware Oriented Security and Trust Symposium (Asian HOST)
• 2024.06 Technical Program Committee, Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC2025)
• 2024.04 - Present Steering committee member, IPSJ Computer Security (CSEC)

Awards

1. 2024 IEEE EMC Society Richard B.Schulz Award for Best EMC Transaction Paper
2. 2024 EMC Japan/APEMC Okinawa, Exellent Paper Award
3. 2023 DesignCon 2023, Best Papar Award
4. 2020 ACS/IEEE International Conference on Computer Systems and Applications, Best Paper Award
5. 2020 IEEE EMC Society Richard B.Schulz Award for Best EMC Transaction Paper, Honorable Mention
6. 2020 暗号と情報セキュリティシンポジウム イノベーション論文賞
7. 2018 ハードウェアセキュリティ研究会若手優秀賞
8. 2017 情報セキュリティ研究奨励賞
9. 2014 Cryptographic Hardware and Embedded Systems, Best paper award
10. 2014 IEEE International Symposium on Hardware-Oriented Security and Trust, Best student paper award

Articles and Invited Talks

1. 藤本大介, 林　優一, 本間尚文,"Beyond 5G/6G時代の次世代暗号の物理攻撃耐性を評価可能なプラットフォーム開発,"電子情報通信学会ソサイエティ大会, 2024.
2. 藤本大介, "情報機器に存在する物理的な漏えい情報を用いた攻撃に関するセキュリティ," IEEE Computer Society Kansai Chapter 2019年第2回 技術講演会, 2019.
3. 藤本大介, 奥秋陽太, 坂本純一, 吉田直樹, 松本勉, “最先端暗号の実装”, DAシンポジウム, 14A-1, 2018.
4. 藤本 大介, "暗号の高効率ハードウェア実装," 電子情報通信学会誌, Vol.103, No.1, pp.40-44, 2020.
5. 藤本 大介, "センサの計測過程におけるセキュリティ," 電子情報通信学会 基礎・境界ソサイエティ Fundamentals Review, 2019, 13 巻, 2 号, p.142-150.
6. 藤本 大介, “耐量子計算機暗号の電磁的漏えい評価にむけた評価基板,” 月刊EMC, no. 437, pp. 94-103, 2024.
7. 藤本 大介, “電磁セキュリティを考慮したチップ内電位測定手法,” 月刊EMC, no. 331, pp. 15-23, 2015.
8. 藤本 大介, “サイドチャネル攻撃評価のための電源ノイズモデル,” 月刊EMC, no. 306, pp. 31-39, 2013.

Journals

1. Tianyou Bao, Pengzhou He, Daisuke Fujimoto, Yuichi Hayashi and Jiafeng Xie,"CHIRP: Compact and High-Performance FPGA Implementation of Unified Hardware Accelerators for Ring-Binary-LWE-based PQC," ACM Transactions on Reconfigurable Technology and Systems, 2025, doi:10.1145/3715153.
2. Hikaru Nishiyama, Daisuke Fujimoto and Yuichi Hayashi, "Fault Injection Caused by Phase-Locked Loop Compromised With IEMI," in IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, doi: 10.1109/TEMC.2024.3468337.
3. Junichi Sakamoto, Daisuke Fujimoto, Riku Anzai, Naoki Yoshida and Tsutomu Matsumoto, "High-Throughput Bilinear Pairing Processor for Server-Side FPGA Applications," in IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, vol. 32, no. 8, pp. 1498-1511, Aug. 2024, doi: 10.1109/TVLSI.2024.3402164.
4. Hikaru Nishiyama,Daisuke Fujimoto,Hideaki Sone,Yuichi Hayashi,"Efficient Noninvasive Fault Injection Method Utilizing Intentional Electromagnetic Interference,"IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Vol.65, No.4, pp.1211-1219, 2023.
5. Shugo Kaji,Daisuke Fujimoto,Masahiro Kinugawa,Yuichi Hayashi,"Echo TEMPEST: EM Information Leakage Induced by IEMI for Electronic Devices,"IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Vol.65, No.3, pp.655-666, 2023.
6. Shinpei Wada,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,"A Detection method of electromagnetic analysis attacks based on change in amplitude of noise around integrated circuits,"IEICE Communications Express, Vol.12, No.3, pp.90-95, 2023.
7. Saki Osuka,Daisuke Fujimoto,Shinichi Kawamura,Yuichi Hayashi,"Electromagnetic Side-Channel Analysis Against TERO-Based TRNG,"IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Vol.64, No.5, pp.1288-1295, 2022.
8. Daisuke Fujimoto,Takumi Okamoto,Yang Li,Young Woo Kim,Yuichi Hayashi,"Evaluation of Statistical Fault Analysis Using Input Timing Violation of Sequential Circuit on Cryptographic Module Under IEMI,"IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Vol.65, No.1, pp.51-57, 2022.
9. Taiki Kitazawa,Kimihiro Arai,Young Woo Kim,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,"A Novel Remote Visualization of Screen Images Against High-Resolution Display with Divided Screens Focusing on the Difference of Transfer Function of Multiple Emanations,"IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, vol. 64, no. 6, pp. 1941-1948, Dec. 2022, doi: 10.1109/TEMC.2022.3204357.
10. Junichi Sakamoto,Shungo Hayashi,Daisuke Fujimoto,Tsutomu Matsumoto,"Constructing software countermeasures against instruction manipulation attacks: an approach based on vulnerability evaluation using fault simulator,"Journal of Cluster Computing, Vol.25, Issue 4, pp.2739-2753, 2021.
11. Shinpei Wada,Yuichi Hayashi,Daisuke Fujimoto,Naofumi Homma,Kim Young Woo,"Measurement and Analysis of Electromagnetic Information Leakage from Printed Circuit Board Power Delivery Network of Cryptographic Devices,"IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Vol.63, No.5, pp.1322-1332, 2021.
12. Shinichi Kawamura,Yuichi Komano,Hideo Shimizu,Saki Osuka,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,Kentaro Imafuku,"Efficient Algorithms for Sign Detection in RNS Using Approximate Reciprocals,"IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, Vol.E104-A, No.1, pp.121-134, 2021.
13. Kim Young Woo,Daisuke Fujimoto,Shugo Kaji,Shinpei Wada,Hyunwook Park,Daehwan Lho,Joungho Kim,Yuichi Hayashi,"Segmentation method based modeling and analysis of a glass package power distribution network (PDN),"Nonlinear Theory and Its Applications, IEICE, Vol.11, No.2, pp.170-188, 2020.
14. Junichi Sakamoto,Daisuke Fujimoto,Tsutomu Matsumoto,"Laser-Induced Controllable Instruction Replacement Fault Attack,"IEICE TRANSACTIONS on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, Vol.E103-A, No.1, pp.11-20, 2020.
15. Daisuke Fujimoto,Takashi Narimatsu,Yuichi Hayashi,"Fundamental Study on the Effects of Connector Torque Value on the Change of Inductance at the Contact Boundary,"IEICE Transactions on Electronics, Vol.E102-C, No.9, pp.636-640, 2019.
16. Masahiro Kinugawa,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,"Electromagnetic Information Extortion from Electronic Devices Using Interceptor and Its Countermeasure,"IACR Transactions on Cryptographic Hardware and Embedded Systems (TCHES) , Vol.2019, No.4, pp.62-90, 2019.
17. Daisuke Fujimoto,Shota Nin,Yuichi Hayashi,Noriyuki Miura,Nagata Makoto,Tsutomu Matsumoto,"A Demonstration of HT-detection Method Based on Impedance Measurements of the Wiring around ICs,"IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, Vol.65, No.10, pp.1320-1324, 2018.
18. Shugo Kaji,Masahiro Kinugawa,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,"Data Injection Attack Against Electronic Devices With Locally Weakened Immunity Using a Hardware Trojan," IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Vol. 61, No. 4, pp. 1115-1121, Aug. 2019, doi: 10.1109/TEMC.2018.2849105.
19. Saki Osuka,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,Naofumi Homma,Arthur Beckers,Josep Balasch,Benedikt Gierlichs,Ingrid Verbauwhede,"EM Information Security Threats Against RO-Based TRNGs: The Frequency Injection Attack Based on IEMI and EM Information Leakage,"IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Vol. 61, No. 4, pp. 1122-1128, Aug. 2019, doi: 10.1109/TEMC.2018.2844027.
20. 藤本 大介,林 優一,"実環境で動的構成可能なデジタル回路を用いたIC 内部に伝導するノイズの測定法,"電気学会論文誌A, Vol.138, No.6, pp.335-340, 2018.
21. Makoto Nagata,Daisuke Fujimoto,Noriyuki Miura,Naofumi Homma,Yuichi Hayashi,Kazuo Sakiyama,"Protecting cryptographic integrated circuits with side-channel information,"IEICE Electronics Express, Vol.14, No.2, pp.20162005-20162005, 2017.
22. Naofumi Homma, Yuichi Hayashi, Noriyuki Miura, Daisuke Fujimoto, Makoto Nagata, Takafumi Aoki,"Design Methodology and Validity Verification for a Reactive Countermeasure Against EM Attacks," Journal of Cryptology, Vol.30, pp. 373 - 391, 2017.
23. Noriyuki Miura, Shiro Dosho, Hiroyuki Tezuka, Takuji Miki, Daisuke Fujimoto, Takuya Kiriyama, Makoto Nagata,"A 1 mm Pitch 80 × 80 Channel 322 Hz Frame-Rate Multitouch Distribution Sensor with Two-Step Dual-Mode Capacitance Scan,"IEEE Journal of Solid-State Circuits, vol. 50, no. 11, pp. 2741-2749, Nov. 2015, doi: 10.1109/JSSC.2015.2480094.
24. Sho Endo, Yang Li, Naofumi Homma, Kazuo Sakiyama, Kazuo Ohta, Daisuke Fujimoto, Makoto Nagata, Toshihiro Katashita, Jean-Luc Danger, Takafumi Aoki,"A Silicon-Level Countermeasure Against Fault Sensitivity Analysis and Its Evaluation,"IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, vol. 23, no. 8, pp. 1429-1438, Aug. 2015, doi: 10.1109/TVLSI.2014.2339892.
25. Daisuke Fujimoto, Noriyuki Miura, Makoto Nagata, Yu-ichi Hayashi, Naofumi Homma, Takafumi Aoki, Yohei Hori, Toshihiro Katashita, Kazuo Sakiyama, Thanh-Ha Le, Julien Bringer, Pirouz Bazargan-Sabet, Shivam Bhasin,"Power Noise Measurements of Cryptographic VLSI Circuits Regarding Side-Channel Information Leakage," IEICE Transactions on Electronics, Vol.E97-C, Issue.4, pp.272-279, 2014.
26. Daisuke Fujimoto, Toshihiro Katashita, Akihiko Sasaki, Yohei Hori, Akashi Satoh, Makoto Nagata,"A Fast Power Current Simulation of Cryptographic VLSI Circuits for Side Channel Attack Evaluation,"IEICE TRANSACTIONS on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, Vol.E96-A, No.12, pp.2533-2541 2013.
27. Tetsuro Matsuno, Daisuke Fujimoto, Daisuke Kosaka, Naoyuki Hamanishi, Ken Tanabe, Masazumi Shiochi, Makoto Nagata,"An Arbitrary Digital Power Noise Generator Using 65 nm CMOS Technology,"IEICE Transactions on Electronics, Vol.E93-C, Issue.6, pp.820-826, 2010.

International Conference Paper

1. Daisuke Fujimoto, Yuichi Hayashi, "Current Consumption Model for More Efficient Side-channel Tolerant Design at FPGA Design Stage", Asia and South Pacific Design Automation Conference, pp.1270-1274, 2025.
2. Riku Koizumi, Daisuke Fujimoto, Yuichi Hayashi, "A Fair Resource Comparison of FPGA Implementations of Butterfly Unit for Number-Theoretic Transform without DSPs" WIP Poster Session No.11
3. K.Abe, D.Fujimoto, Y.Hayashi, "Detection Method for Hardware Trojans in PCBs and Peripherals Using Oscillation Frequency Changes in Digital Ring Oscillators," Asian Hardware Oriented Security and Trust 2024, ph.D Forum, 2024.
4. Hikaru Nishiyama, Dasiuke Fujimoto, Yuichi Hayashi, "Controlling Faulty Byte Outputs with IEMI againstCryptographic ICs," EMC Compo 2024, pp.131-135, 2024.
5. Daisuke Fujimoto, Taichi Sato, Yuichi Hayashi, "Current Consumption Modeling of Logic Cells Based on Measurements for Side-channel Attack Simulation," EMC Compo 2024, pp.225-228, 2024.
6. Koki Abe, Daisuke Fujimoto, Yuichi Hayashi, "Fundamental Study on Detecting Hardware Trojans in Printed Circuit Boards Using Ring Oscillators," EMC Compo 2024, pp.234-237, 2024.
7. Taiki Kitazawa, Daisuke Fujimoto, Yuichi Hayashi, "Fundamental Study on Simple Power Analysis Using Backscattering from Switching Regulators," EMC Europe, pp.22-26, 2024.
8. Shugo Kaji, Masahiro Kinugawa, Daisuke Fujimoto, Yuichi Hayashi, "Fundamental Study on Detection of Counterfeit Parts with Abnormal Aging Characteristics Using Electromagnetic Backscattering from I/O Circuits," EMC Europe, pp.185-188. 2024.
9. Hikaru Nishiyama, Daisuke Fujimoto, Yuichi Hayashi, "Timing-Controlled EM Fault Injection Method Focusing on EM Leakage from Communication Channel," EMC Europe, pp.193-197. 2024.
10. Koki Abe, Taiki Kitazawa, Daisuke Fujimoto, Yuichi Hayashi, "Fundamental Study on Restoration Method of Encoded Data from Electromagnetic Leakage Focusing on Error Detection Codes," EMC Europe, pp.269-273, 2024.
11. Hikaru Nishiyama, Daisuke Fujimoto, Yuichi Hayashi, "Fundamental Study on Methods of Protecting Cryptographic Modules from IEMI Fault Injection Using Spread Spectrum Clocking," 2024 4th URSI Atlantic Radio Science Meeting (AT-RASC), Meloneras, Spain, 2024, pp. 1-4, doi: 10.46620/URSIATRASC24/UODR1320.
12. Taiki Kitazawa, Daisuke Fujimoto, Yuichi Hayashi,"Extraction of Audio Information from EM Emission Caused by Loose Connectors,", EMC Japan/APEMC Okinawa, pp.2-5, 2024.
13. Daisuke Fujimoto, Taichi Sato, Koki Abe, Yuichi Hayashi,"Fundamental Study on Electromagnetic Analysis Attack Detection using Oscillation Shift of Ring Oscillator, EMC Japan/APEMC Okinawa, pp.53-56, 2024.
14. Hikaru Nishiyama,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,"Remote Fault Injection Attack against Cryptographic Modules via Intentional Electromagnetic Interference from an Antenna,"2023 Workshop on Attacks and Solutions in Hardware Security(ASHES 2023), pp.93-102, 2023.
15. Shugo Kaji,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,"Simulation-Based Approach to Generating Golden Data for PCB-Level Hardware Trojan DetectionUsing Capacitive Sensor,"2023 IEEE Physical Assurance and Inspection of Electronics (PAINE), pp.1-7, 2023.
16. Hikaru Nishiyama,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,"Improvement of IEMI Fault Injection from Outside Cryptographic Devices,"URSI general assembly and scientic symposium, 2023.
17. Shugo Kaji,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,"Enhanced Modulation Degree of Leakage Wave Induced by IEMI via Nonlinear Circuit Elements,"2023 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Signal & Power Integrity, 487, 2023.
18. Daisuke Fujimoto,Shinpei Wada,Yuichi Hayashi,"Fundamental Study on the Effect of the Duty Cycle of Clock Signal on Side-Channel Leakage,"2023 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Signal & Power Integrity, 2023.
19. Young Woo Kim,Daisuke Fujimoto,Shinpei Wada,Taiki Kitazawa,Yuichi Hayashi,"How to Design Secured Power Delivery Network (PDN)of Cryptographic Devices: Challenges, Evaluation Methods, and Solutions,"DESIGN CON 2023, 2023.
20. Daisuke Fujimoto,"Introduction of Security Evaluation Platform for Side-Channel Analysis,"Yonsei-NAIST Joint Workshop, 2023.
21. Daisuke Fujimoto,Young Woo Kim,Yuichi Hayashi,Naofumi Homma,Masanori Hashimoto,Takashi Sato,Jean-Luc Danger,"SASIMI: Evaluation Board for EM Information Leakage from Large Scale Cryptographic Circuits,"2022 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity (EMCSI), pp.299-302, 2022.
22. Taiki Kitazawa,Yoshiki Kitamura,Young Woo Kim,Daisuke Fujimoto,Hideaki Sone,Yuichi Hayashi,"TEMPEST attack against high-resolution displays using differences in the transfer function of EM waves,"2022 3rd URSI Atlantic and Asia Pacific Radio Science Meeting (AT-AP-RASC), pp.1-4, 2022.
23. Hikaru Nishiyama,Daisuke Fujimoto,Young Woo Kim,Yuichi Hayashi,"IEMI Fault Injection Method Using Continuous Sinusoidal Wave with Controlled Frequency, Amplitude, and Phase,"13th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, pp.97-101, 2022.
24. Young Woo Kim,Shinpei Wada,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,"Analysis of Filtering Window Impacts on Estimation Accuracy of Information Leakage from Exposed Power Delivery Network of Cryptographic Devices,"2021 13th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo), pp.128-132, 2022.
25. Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,"Investigation of the Effect of Temperature on Fault Injection Using Intentional Electromagnetic Interference,"Asia Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility, 2021.
26. Young Woo Kim,Shinpei Wada,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,"Analysis of Electromagnetic Information Leakage from Overdesigned Power Delivery Network of Cryptographic Devices,"Asia Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility, 2021.
27. Shugo Kaji,Daisuke Fujimoto,Young Woo Kim,Yuichi Hayashi,"A Fundamental Evaluation of EM Information Leakage Induced by IEMI for a Device with Differential Signaling,"Asia Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility, 2021.
28. Saki Osuka,Daisuke Fujimoto,Arthur Beckers,Benedikt Gierlichs,Ingrid Verbauwhede,Yuichi Hayashi,"A Study on Output Bit Tampering of True Random Number Generators Using Time-Varying EM Waves,"Asia Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility, 2021.
29. Riki Hashimoto,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,"Fundamental Study on Evaluating Immunity of RO- Based TRNGs Against Frequency Injection Attack,"Asia Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility, 2021.
30. Young Woo Kim,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,"Analysis of HDMI 2.1 Mated Connector Contact Boundary Impedance Impacts on a High-speed Digital System Performance,"Proceedings of 30th International Conference on Electrical Contacts, 2021.
31. Junichi Sakamoto,Shungo Hayashi,Daisuke Fujimoto,Tsutomu Matsumoto,"How to Code Data Integrity Verification Secure Against Single-Spot-Laser-Induced Instruction Manipulation Attacks,"ACS/IEEE International Conference on Computer Systems and Applications, 2020.
32. Jurica Kundrata,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,Adrijan Bari$0107,"Comparison of Pearson correlation coefficient and distance correlation in Correlation Power Analysis on Digital Multiplier,"International Convention on Information, Communication and Electronic Technology (MIPRO), pp.146-151, 2020.
33. Saki Osuka,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,"An estimation method of output bits by observing EM leakage from TERO based TRNG,"JHAS (JIL Hardware-related Attacks Subgroup) 技術講演会, 2020.
34. Shinpei Wada,Young Woo Kim,Daisuke Fujimoto,Naofumi Homma,Yuichi Hayashi,"Efficient Electromagnetic Analysis based on Side-Channel Measurement Focusing on Physical Structures,"IEEE EMC+SIPI SYMPOSIUM, 2020.
35. Young Woo Kim,Yuichi Hayashi,Daisuke Fujimoto,Hyunwook Park,Joungho Kim,"Statistical Signal/Power Integrity Analysis of High-Bandwidth Memory (HBM) Interposer Channel considering SSO Noise and Data Coding,"DesignCon, 2020.
36. Junichi Sakamoto,Yusuke Nagahama,Daisuke Fujimoto,Yota Okuaki,Tsutomu Matsumoto,"Low-Latency Pairing Processor Architecture Using Fully-Unrolled Quotient Pipelining Montgomery Multiplier,"Asian Hardware Oriented Security and Trust, 2019.
37. Arthur Beckers,Masahiro Kinugawa,Yuichi Hayashi,Daisuke Fujimoto,Josep Balasch,Ingrid Verbauwhede,"Design Considerations for EM Pulse Fault Injection,"Smart Card Research and Advanced Application Conference, 2019.
38. Young Woo Kim,Daisuke Fujimoto,Hikaru Nishiyama,Daehwan Lho,Hyunwook Park,Joungho Kim,Yuichi Hayashi,"Statistical Analysis of Simultaneous Switching Output (SSO) Impacts on Steady State Output Responses and Signal Integrity,"Proceedings of the 12th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo), 2019.
39. Hikaru Nishiyama,Takumi Okamoto,Kim Young Woo,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,"Fundamental Study on Influence of Intentional Electromagnetic Interference on IC Communication,"Proceedings of the 12th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo), 2019.
40. Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,"Study on Estimation of Sensing Timing Based on Observation of EM Radiation from ToF Range Finder,"oint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Sapporo" (EMC Sapporo & APEMC 2019), pp.824-826, 2019.
41. Arthur Beckers,Josep Balasch,Benedikt Gierlichs,Saki Osuka,Daisuke Fujimoto,Naofumi Homma,Yuichi Hayashi,Ingrid Verbauwhede,"Characterization of EM Faults on ATmega328p,"Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Sapporo" (EMC Sapporo & APEMC 2019), pp.820-823, 2019.
42. Kosuke Koiwa,Rei Ueno,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,Makoto Nagata,Makoto Ikeda,Tsutomu Matsumoto,Naofumi Homma,"Collision-Based EM Analysis on ECDSA Hardware and a Countermeasure,"Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Sapporo" (EMC Sapporo & APEMC 2019), pp.793-796, 2019.
43. Shugo Kaji,Masahiro Kinugawa,Daisuke Fujimoto,Laurent Sauvage,Jean-Luc Danger,Yuichi Hayashi,"Method for Identifying Individual Electronic Devices Focusing on Differences in Spectrum Emissions,"Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Sapporo" (EMC Sapporo & APEMC 2019), pp.670-670, 2019.
44. Saki Osuka,Daisuke Fujimoto,Naofumi Homma,Arthur Beckers,Josep Balasch,Benedikt Gierlichs,Ingrid Verbauwhede,Yuichi Hayashi,"Fundamental Study on Randomness Evaluation Method of RO-Based TRNG Using APD," Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Sapporo" (EMC Sapporo & APEMC 2019), pp.244-244, 2019.
45. Kosuke Koiwa,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,Makoto Nagata,Makoto Ikeda,Tsutomu Matsumoto,Naofumi Homma,"EM Security Analysis of Compact ECDSA Hardware,"IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and IEEE Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC/APEMC), 2018.
46. Saki Osuka,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,Naofumi Homma,Arthur Beckers,Joseph Balasch,Benedikt Gierlichs,Ingrid Verbauwhede,"Fundamental Study on Non-invasive Frequency Injection Attack against RO-based TRNG,"IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and IEEE Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC/APEMC), 2018.
47. Shugo Kaji,Masahiro Kinugawa,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,"Data Injection Attacks Using a Hardware Trojan on a Transmission Line,"IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and IEEE Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC/APEMC), 2018.
48. Shota Nin,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,Noriyuki Miura,Makoto Nagata,Tsutomu Matsumoto,"HT-detection Method Based on Impedance Measurements of ICs,"IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and IEEE Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC/APEMC), 2018.
49. Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,Arthur Beckers,Josph Balasch,Benedikt Gierlichs,Ingrid Vaubauwhede,"Detection of IEMI Fault Injection using Voltage Monitor Constructed with Fully Digital Circuit,"IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and IEEE Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC/APEMC), 2018.
50. Akihiro Tsukioka,Makoto Nagata,Koki Taniguchi,Daisuke Fujimoto,Rieko Akimoto,Takao Egami,Kenji Niinomi,TakeshiYuhara,Sachio Hayashi,Rob Mathews,Karthik Srinivasan,Ying-Shiun Li,Norman Chang,"Effect of Field Area on Disturbance Propagation through Silicon Substrates in SOI-BCD Process,"International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe 2017), 2017.
51. Daisuke Ishihata,Naofumi Homma,Yuichi Hayashi,Noriyuki Miura,Daisuke Fujimoto,Makoto Nagata,Takefumi Aoki,"Enhancing Reactive Countermeasure against EM Attacks with Low Overhead,"IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, pp.399-404, 2017.
52. Koki Taniguchi,Makoto Nagata,Akihiro Tsukioka,Daisuke Fujimoto,Noriyuki Miura,Takao Egami,Rieko Akimoto,Kenji Niinomi,Terumitsu Komatsu,Yoshinori Fukuba,Atsushi Tomishima,"Susceptibility Evaluation of CAN Transceiver Circuits with In-Place Waveform Capturing under RF DPI,"International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2017), pp.59-63, 2017.
53. Daisuke Fujimoto,Ryo Miyachi,Tsutomu Matsumoto,"A Threat of Malicious Hardware Using On-chip Voltmeter,"Asia-Pacific International EMC Symposium, pp.96-98, 2017.
54. Junichi Sakamoto, Daisuke Fujimoto, Tsutomu Matsumoto,"Laser irradiation on EEPROM sense amplifiers enhances side-channel leakage of read bits,"IEEE Asian Hardware Oriented Security and Trust Symposium, pp.1-6, 2016.
55. Daisuke Fujimoto, Yusuke Nagahama, Tsutomu Matsumoto,"How to design hardware prime field multipliers for bilinear pairing,"International SoC Design Conference, pp.203-204, 2016.
56. Noriyuki Miura, Daisuke Fujimoto, Makoto Nagata,"Proactive and Reactive Protection Circuit Techniques Against EM Leakage and Injection,"Joint IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and EMC Europe (EMC 2015), pp.252-257, 2015.
57. Noriyuki Miura, Daisuke Fujimoto, Makoto Nagata, Naofumi Homma, Yuichi Hayashi, Takafumi Aoki,"EM Attack Sensor: Concept Circuit and Design-Automation Methodology (Invited),"ACM Design Automation Conference 2015 (DAC 2015), pp. #69.2- #69.2, 2015.
58. Daisuke Fujimoto, Makoto Nagata, Shivam Bhasin, Jean-Luc Danger,"A Novel Methodology for Testing Hardware Security and Trust Exploiting On-Chip Power Noise Measurement,"Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC 2015), pp.749-754, 2015.
59. Daisuke Fujimoto, Noriyuki Miura, Yuichi Hayashi, Naofumi Homma, Takafumi Aoki, Makoto Nagata,"A DPA/DEMA/LEMA-Resistant AES Cryptographic Processor with Supply-Current Equalizer and Micro EM Probe Sensor,"Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC 2015), pp.26-27, 2015.
60. Makoto Nagata, Daisuke Fujimoto, Noriyuki Miura,"On-Chip Monitoring for In-Place Diagnosis of Undesired Power Domain Problems in IC Chips,"Asian Test Symposium (ATS 2014), pp.258-262, 2014.
61. Noriyuki Miura, Daisuke Fujimoto, Rie Korenaga, Kohei Matsuda, Makoto Nagata,"An Intermittent-Driven Supply-Current Equalizer for 11x and 4x Power-Overhead Savings in CPA-Resistant 128bit AES Cryptographic Processor,"IEEE Asian Solid-State Circuits Conference (A-SSCC 2014), pp.225-228, 2014.
62. Naofumi Homma, Yuichi Hayashi, Noriyuki Miura, Daisuke Fujimoto, Daichi Tanaka, Makoto Nagata, Takafumi Aoki,"EM Attack Is Non-Invasive?-- Design Methodology and Validity Verification of EM Attack Sensor (Best Paper Award),"Workshop on Cryptographic Hardware and Embedded Systems (CHES 2014), pp.1-16, 2014.
63. Noriyuki Miura, Daisuke Fujimoto, Yuichi Hayashi, Naofumi Homma, Takafumi Aoki, Makoto Nagata,"Integrated-Circuit Countermeasures Against Information Leakage Through EM Radiation,"IEEE Intl. Symposium on Electromagnetic Compatibility, pp.748-751, 2014.
64. Noriyuki Miura, Daisuke Fujimoto, Daichi Tanaka, Yuichi Hayashi, Naofumi Homma, Takafumi Aoki, Makoto Nagata,"A Local EM-Analysis Attack Resistant Cryptographic Engine with Fully-Digital Oscillator-Based Tamper-Access Sensor,"IEEE 2014 Symposium on VLSI Circuits, pp.172-173, 2014.
65. Daisuke Fujimoto, Noriyuki Miura, Makoto Nagata, Yuichi Hayashi, Naofumi Homma, Takafumi Aoki, Yohei Hori, Toshihiro Katashita, Kazuo Sakiyama, Thanh-Ha Le, Julien Bringer, Pirouz Bazargan-Sabet, Shivam Bhasin,"Correlation Power Analysis using Bit-Level Biased Activity Plaintexts against AES Cores with Countermeasures,"International Symposium on Electromagnetic Compatibility, pp.306-309, 2014.
66. Daisuke Fujimoto, Daichi Tanaka, Noriyuki Miura, Makoto Nagata, Yuichi Hayashi, Naofumi Homma, Shivam Bhasin, Jean-Luc Danger,"Side-Channel Leakage on Silicon Substrate of CMOS Cryptographic Chip (Best Student Paper Award),"IEEE International Symposium on Hardware-Oriented Security and Trust, pp.32-37, 2014.
67. Shivam Bhasin, Jean-Luc Danger, Tarik Graba, Yves Mathieu, Daisuke Fujimoto, Makoto Nagata,"Physical Security Evaluation at an Early Design-Phase: A Side-Channel Aware Simulation Methodology,"ACM Workshop Proc. Engineering Simulations for Cyber Physical Systems, pp.13-20, 2014.
68. Noriyuki Miura, Shiro Dosho, Satoshi Takaya, Daisuke Fujimoto, Takuya Kiriyama, Hiroyuki Tezuka, Takuji Miki, Hiroto Yanagawa, Makoto Nagata,"A 1mm-Pitch 80×80-Channel 322Hz-Frame-Rate Touch Sensor with Two-Step Dual-Mode Capacitance Scan,"IEEE Intl. Solid-State Circuits Conference, pp.216-217, 2014.
69. Daisuke Fujimoto, Noriyuki Miura, Makoto Nagata, Yuichi Hayashi, Naofumi Homma, Yohei Hori, Toshihiro Katashita, Kazuo Sakiyama, Thanh-Ha Le, Julien Bringer, Pirouz Bazargan-Sabet, Jean-Luc Danger,"On-Chip Power Noise Measurements of Cryptographic VLSI Circuits and Interpretation for Side-Channel Analysis,"IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility in Europe, pp.405-410, 2013.
70. Makoto Nagata, Daisuke Fujimoto, Daichi Tanaka,"Power Current Modeling of Cryptographic VLSI Circuits for Analysis of Side Channel Attacks,"IEEE Asia-Pacific International Symposium and Exhibition on Electromagnetic Compatibility, pp.1-4, 2013.
71. Daisuke Fujimoto, Makoto Nagata, Toshihiro Katashita, Akihiko Sasaki, Yohei Hori, Akashi Satoh,"A Fast Power Current Analysis Methodology Using Capacitor Charging Model for Side Channel Attack Evaluation,"IEEE Intl. Symp. Hardware-Oriented Security and Trust, pp.87-92, 2011.
72. Tetsuro Matsuno, Daisuke Fujimoto, Daisuke Kosaka, Naoyuki Hamanishi, Ken Tanabe, Masazumi Shiochi, Makoto Nagata,"A 6-bit Arbitrary Digital Noise Emulator in 65nm CMOS Technology,"Custom Integrated Circuits Conference, pp.187-190, 2009.

Japanese Domestic Conference Paper

1. 西山 輝, 藤本 大介, 川村 信一, 林 優一, "TRNG On-the-fly Testを実装したPLL-TRNGに対する振幅変調波を用いた周波数注入攻撃," 暗号と情報セキュリティシンポジウム, 3E1-1, 2025.1.30
2. 池内 陸, 北澤 太基, 林 優一, "スペクトラム拡散された漏えい電磁波を用いたTEMPESTの検討," 暗号と情報セキュリティシンポジウム, 1E2-1, 2025.1.28
3. 井出 隼人, 松本 匠平, 北澤 太基, 鍛治 秀伍, 藤本 大介, 春日 貴志, 林 優一, "ケーブル幾何構造の操作により構成されるハードウェアトロージャンにより引き起こされる電磁情報漏えい評価," 暗号と情報セキュリティシンポジウム, 1E2-2, 2025.1.28
4. 松本匠平, 角野 匠, 池内 陸, 阿部虹稀, 北澤太基, 鍛治秀伍,藤本大介,林 優一, "周囲環境の金属体のTEMPESTへの利用可能性の評価", HWSフォーラム2024@神戸, 2024.12.16
5. 大貫和基, 西山 輝, 藤本大介,林 優一, "暗号モジュールから生ずる漏えい電磁波を用いた故障感度推定に関する検討", HWSフォーラム2024@神戸, 2024.12.16
6. 阿部虹稀, 藤本大介,林 優一, "周囲環境の金属体のTEMPESTへの利用可能性の評価", HWSフォーラム2024@神戸, 2024.12.16
7. 西山 輝, 藤本大介,林 優一,川村信一, "周囲環境の金属体のTEMPESTへの利用可能性の評価", HWSフォーラム2024@神戸, 2024.12.16
8. Ryo Nagoshi, Shugo Kaji, Daisuke Fujimoto, Yuichi Hayashi," A Feasibility of Self-Interference Suppression Method in Echo TEMPEST Using Frequency Conversion," 信学技報 (EMCJ2024-70), vol. 124, no. 258, , pp. 1-4, 2024年11月
9. 西山　輝, 藤本大介, 林　優一, 川村信一,"位相同期回路を用いた真性乱数生成器に対する周波数注入攻撃に関する基礎検討," 信学技報 (HWS2024-63), vol. 124, no. 229, pp. 7-11, 2024年11月
10. 渡辺　諒, 鍛治秀伍, 藤本大介, 林　優一,"ICからのバックスキャッタを用いた経年劣化評価の高速化の検討," 信学技報 (HWS2024-63), vol. 124, no. 229, pp. 18-21, 2024年11月
11. 内藤さくら, 赤塚優輝, 北澤太基,富岡雅弘,藤本大介,チャカロタイ ジェドヴィスノプ,林 優一,春日貴志,"20GHz超におけるBCDRとフリースペース法を用いたプリント基板の複素誘電率測定," 信学技報, vol. 124, no. 210, EMCJ2024-41, pp. 28-33, 2024年10月
12. 赤塚優輝, 内藤さくら, 北澤太基,富岡雅弘,藤本大介,チャカロタイ ジェドヴィスノプ,林 優一,春日貴志,"20 GHz超におけるFR-4基板の複素誘電率と信号伝送特性の検討," 信学技報, vol. 124, no. 210, EMCJ2024-42, pp. 34-39, 2024年10月
13. 松本匠平, ⾓野　匠, 池内　陸, 阿部虹稀, 北澤太基, 鍛治秀伍, 藤本⼤介, 林　優⼀, "周囲環境に溶け込む擬似アンテナを使ったTEMPEST," ソサイエティ大会, A-19-03, 2024.9.11.
14. 阿部虹稀, 藤本大介, 林　優一, "リングオシレータを用いたプリント基板上のハードウェアトロージャン検知に関する基礎検討," 信学技報 (HWS2024-27), vol. 124, no. 123, pp. 133-137, 2024.07.22.
15. 角野　匠, 北澤太基, 藤本大介, 林　優一, "音源へのノイズ付加を用いた電磁的情報漏えい対策に関する基礎検討,"信学技報 (HWS2024-49), vol. 124, no. 123, pp. 267-271, 2024.07.23.
16. 池内　陸, 北澤太基, 藤本大介, 林　優一, "伝送信号を暗号化したディスプレイに対するTEMPESTの検討," 信学技報 (EMCJ2024-20), vol. 124, no. 92, pp. 71-75, 2024.06.28.
17. 大貫 和基, 西山　輝, 藤本 大介, 林 優一, "サイドチャネル情報を用いた誤りバイト数推定に基づく故障利用攻撃の効率化に関する基礎検討," 信学技報 (HWS2024-2), vol. 124, no. 6, pp. 3 - 7, 2024.04.19.
18. 鍛治　秀伍, 衣川　昌宏, 藤本　大介, 林　優一, “入出力回路からのバックスキャッタリングを用いた経年劣化検出手法に関する基礎検討,” 信学技報 (HWS2024-4), vol. 124, no. 6, pp. 14 - 17, 2024.04.19.
19. 芳賀 陸雄,藤本 大介,林 優一,"同種写像暗号実装に向けたRNSモンゴメリ剰余乗算器の高エネルギー効率な設計法,", 暗号と情報セキュリティシンポジウム(SCIS2024), 1F1-5, 2024
20. 西山 輝,藤本 大介,林 優一,"複数の位相同期回路を用いた暗号モジュールへの故障注入の抑制手法に関する検討,"ハードウェアセキュリティフォーラム, 2023.
21. 芳賀 陸雄,藤本 大介,林 優一,"1024bit法RNS-MDMMのFPGA実装に対する静的遅延解析によるボトルネック評価,"ハードウェアセキュリティフォーラム, 2023.
22. 近藤 嵩之,鍛治 秀伍,藤本 大介,林 優一,"Sパラメタを用いたEcho TEMPESTの漏えい周波数抽出法に関する検討,"ハードウェアセキュリティフォーラム, 2023.
23. 阿部 虹稀,藤本 大介,林 優一,"漏えい電磁波に含まれる符号化された情報に対する復元と外来雑音による影響の考察,"ハードウェアセキュリティフォーラム, 2023.
24. 西山輝,藤本 大介,林 優一,"位相同期回路の周波数逓倍比が暗号モジュールへの故障注入に与える影響に関する基礎検討,"環境電磁工学研究会, pp.46-50, 2023.
25. 田中美優,藤本 大介,林 優一,"意図的な電磁波照射に対するカメラシステムのイミュニティ評価,"ハードウェアセキュリティ研究会, pp.1-4, 2023.
26. 西山輝,藤本 大介,林 優一,"位相同期回路へのグリッチ注入に基づく故障利用解析の基礎検討,"ハードウェアセキュリティ研究会, pp.5-9, 2023.
27. 北澤太基,鍛治 秀伍,藤本 大介,林 優一,"スイッチングレギュレータからのバックスキャッタリングに着目したサイドチャネル攻撃に関する基礎検討,"環境電磁工学研究会, pp.28-31, 2023.
28. 阿部 虹稀,藤本 大介,林 優一,"漏えい電磁波に含まれる符号化された情報の復元に関する基礎検討,"ソサイエティ大会, A-19-4, 2023.
29. 芳賀 陸雄,藤本 大介,林 優一,"1024bit法のRNSモンゴメリ剰余乗算器における高エネルギーなFPGA実装手法に関する基礎検討,"ソサイエティ大会, A-19-5, 2023.
30. 近藤 嵩之,北澤 太基,鍛治 秀伍,藤本 大介,林 優一,"複数の変調方式を用いた意図的電磁照射により生ずる漏えい音情報の高精度な復元法に関する検討,"ハードウェアセキュリティ研究会, pp.171-175, 2023.
31. 西山　輝,藤本 大介,林 優一,"暗号機器の故障発生頻度を用いた妨害波の伝達効率推定法に関する基礎検討,"環境電磁工学研究会, pp.82-86, 2023.
32. 佐藤 太一,藤本 大介,林 優一,"リングオシレータの発振周波数の差異に変化に着目した電磁波解析攻撃検知手法の基礎検討,"環境電磁工学研究会, pp.66-69, 2023.
33. 藤本 大介,芳賀 陸雄,林 優一,"剰余乗算器からのサイドチャネル情報漏洩においてRNSを用いた実装の並列数が与える影響に関する基礎検討 ,"ハードウェアセキュリティ研究会, pp.6-8, 2023.
34. 富島 み登り,藤本 大介,林 優一,"干渉緩和機能を有したdToF Lidarに対する距離偽装攻撃の基礎検討,"ハードウェアセキュリティ研究会, pp.239-244, 2023.
35. 尾崎 慧一,藤本 大介,大須賀 彩希,川村 信一,林 優一,"ROベースのTRNGに対する振幅確率分布を用いた乱数性評価手法,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2C3-2, 2023.
36. 西山 輝,藤本 大介,林 優一,"漏えいと妨害電磁波を用いた暗号モジュールに対する統計故障解析,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2E1-2, 2023.
37. 尾崎 慧一,藤本 大介,大須賀 彩希,川村 信一,林 優一,"ERO-TRNGに対する振幅確率分布を用いた乱数性評価に関する基礎検討,"ハードウェアセキュリティ研究会, pp.17-22, 2022.
38. 富島み登り,藤本 大介,林 優一,"Direct ToF LiDARに対する距離偽装攻撃評価における攻撃光照射タイミング推定法に関する基礎検討,"ハードウェアセキュリティ研究会, pp.41-45, 2022.
39. 高野 誠也,鍛治 秀伍,衣川 昌宏,藤本 大介,林 優一,"意図的な電磁妨害により生ずる情報漏えいのモデル化に向けた評価環境の構築,"環境電磁工学研究会, pp.93-96, 2022.
40. 大須賀 彩希,藤本 大介,林 優一,川村 信一,"サイドチャネル攻撃対策を適用したTERO-based TRNGの乱数性評価,"ハードウェアセキュリティ研究会, pp.13-17, 2022.
41. 和田 慎平,藤本 大介,林 優一,Kim Young Woo,"暗号機器のプリント基板上の電源供給ネットワークにおける電磁的情報漏えい抑制に関する基礎検討,"EMCJ研究会, pp.63-67, 2022.
42. 鍛治 秀伍,太刀掛 彩希,藤本 大介,林 優一,"静電容量センサの出力分布に着目したID生成手法に関する基礎検討,"ハードウェアセキュリティ研究会, pp.19-23, 2022.
43. 北村 圭輝,北澤 太基,藤本 大介,林 優一,"利用環境を考慮したディスプレイからの電磁的漏えい強度の評価,"ハードウェアセキュリティ研究会, pp.24-27, 2022.
44. 北澤 太基,Kim Young Woo,藤本 大介,林 優一,"薄膜高誘電率基板を用いた低インピーダンスPDNによるクロストーク抑制効果の解析,"電磁環境工学研究会, pp.25-30, 2022.
45. 上田 浩行,高野 誠也,藤本 大介,林 優一,"音声の周波数スペクトルに着目したスピーカーフォンからの電磁的情報漏えい評価法,"ハードウェアセキュリティ研究会, pp.147-152, 2022.
46. 湯川 大雅,鍛治 秀伍,藤本 大介,林 優一,"通信線路上のハードウェアトロイによる電磁情報漏えい評価法の検討 ～ 変調度と放射強度に着目した評価 ～,"ハードウェアセキュリティ研究会, pp.164-169, 2022.
47. 鈴木 雅人,藤本 大介,林 優一,"マトリクス型Direct ToF Lidarの攻撃耐性評価環境の構築,"ハードウェアセキュリティ研究会, pp.164-169, 2022.
48. 芳賀 陸雄,森本 康太,藤本 大介,川村 信一,林 優一,"高速RNSモンゴメリ乗算器の小面積化のためのパラメータ選択法,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 3C2-2, 2022.
49. 森本 康太,藤本 大介,林 優一,"RNS表現におけるペアリング計算に適したBEEAのFPGA上での回路規模評価,"ハードウェアセキュリティフォーラム2021, 2021.
50. 西山 輝,藤本 大介,Kim Young Woo,林 優一,"周波数・振幅・位相を制御した連続正弦波を用いた暗号モジュールへの故障注入に関する基礎検討,"ハードウェアセキュリティ研究会, pp.13-18, 2021.
51. 西鳥羽 陽,鍛治 秀伍,衣川 昌宏,藤本 大介,林 優一,"オンチップセンサを用いた線路上のハードウェアトロージャン検知に関する基礎検討,"ハードウェアセキュリティ研究会, pp.38-42, 2021.
52. 太刀掛 彩希,鍛治 秀伍,藤本 大介,林 優一,"静電容量センサを用いたプリント基板の個体差の検出に関する基礎検討,"ハードウェアセキュリティ研究会, pp.49-52, 2021.
53. 森本 康太,藤本 大介,大須賀 彩希,川村 信一,照屋 唯紀,林 優一,"RNS表現におけるペアリング計算に適したBEEAの逆元計算高速化の検討,"ハードウェアセキュリティ研究会, pp.1-7, 2021.
54. 橋本 律紀,藤本 大介,林 優一,"周波数注入攻撃に対するROベースのTRNG耐性評価に関する検討,"ハードウェアセキュリティ研究会(HWS), pp.39-42, 2021.
55. 福嶋 章悟,藤本 大介,林 優一,"利用環境を考慮したラップトップからの電磁的情報漏えい評価,"電子情報通信学会 総合大会, A-19-2, 2021.
56. 森崎 啓太,和田 慎平,藤本 大介,林 優一,"FPGA消費電流シミュレーションに向けた要素回路に対する電気計測手法の検討,"電子情報通信学会 総合大会, A-19-3, 2021.
57. 林 優一,藤本 大介,"コネクタトルクの減少が接触境界の高周波素子に与える影響,"電子情報通信学会総合大会 依頼シンポジウム, BCI-1-2, 2021.
58. 上田 浩行,鍛治 秀伍,藤本 大介,Kim Young Woo,林 優一,"接触境界の表面粗さとトルク値がコネクタ高周波特性に与える影響に関する基礎検討,"機構デバイス研究会, pp.40-43, 2021.
59. 福嶋 章悟,藤本 大介,林 優一,"設置環境の異なるスマートスピーカーからの電磁的情報漏えい評価と対策,"ハードウェアセキュリティ研究会, pp.130-135, 2021.
60. 荒井 公寛,藤本 大介,林 優一,"複数の漏えい周波数に着目した高解像度ディスプレイからの画面情報復元に関する検討,"ハードウェアセキュリティ研究会, pp.126-129, 2021.
61. 福嶋 章悟,藤本 大介,林 優一,"リモートワーク環境におけるスピーカーフォンからの電磁波を通じた情報漏えい評価,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2D2-2, 2021.
62. 荒井 公寛,藤本 大介,林 優一,"漏えい経路の伝達特性の差異に着目した高解像度ディスプレイに対する電磁的情報漏えい評価,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2D2-3, 2021.
63. 藤本 大介,林 優一,"ディジタル回路の遅延変化を用いた電磁波印加攻撃検知手法,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2D3-3, 2021.
64. 鍛治 秀伍,藤本 大介,林 優一,"複数の周波数印加による電磁的情報漏えい誘発に関する基礎検討,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2D3-4, 2021.
65. 上田 浩行,藤本 大介,Kim Young Woo,北澤 太基,春日 貴志,林 優一,"製造メーカの異なるコネクタの相互接続時に生ずる接触境界部の高周波特性の基礎評価,"電子情報通信学会 ソサイエティ大会, 2020.
66. 藤本 大介,"計測過程におけるセキュリティの研究事例,"三菱電機EMプラットフォーム技術部技術講演会, 2020.
67. 鍛治秀伍,藤本 大介,林 優一,"意図的な電磁妨害時に生ずる情報漏えいの基礎評価,"環境電磁工学研究会, pp.25-28, 2020.
68. 和田 慎平,藤本 大介,林 優一,"基板裏面に広く分布する電界に着目した電磁波解析の検討,"電子情報通信学会総合大会, 2020.
69. 江頭 智也,藤本 大介,林 優一,"逐次比較型ADC出力の意図的な電磁妨害耐性評価環境の構築,"IEEE EMCS 仙台チャプタ 学生研究発表会, 2020.
70. 奥秋 陽太,坂本 純一,藤本 大介,松本 勉,"低レイテンシペアリング計算プロセッサによる集約署名検証のVirtex-6上における評価,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2020.
71. 川村 信一,駒野　雄一,清水 秀夫,大須賀 彩希,藤本 大介,林 優一,今福 健太郎," 逆数テーブルを用いた効率的なRNS符号判定アルゴリズム,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2020.
72. 藤本 大介,中尾 文香,林 優一,"スマートロックに対する電磁波照射を用いた強制的な開錠の脅威,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2020.
73. 上田 晋生,井上 侑哉,吉田 直樹,坂本 純一,藤本 大介,松本 勉," 超音波センサに対する攻撃を分析する音響シミュレータ,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2020.
74. 鍛治 秀伍,藤本 大介,衣川 昌宏,林 優一,"電子機器への連続波注入による強制的な電磁情報漏えい誘発に関する基礎検討,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2020.
75. 大須賀 彩希,藤本 大介,林 優一,"単純電磁波解析を用いたTERO-based TRNGの出力ビット推定,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2020.
76. 大須賀 彩希,藤本 大介,林 優一,"TERO-based TRNGに対する周波数注入攻撃時の出力ビット推定手法に関する基礎検討,"信学技報, pp.29-34, 2019.
77. 門脇 悠真,上野 嶺,ヴィッレ ウリマウル,藤本 大介,林 優一,永田 真,池田 誠,松本 勉,本間 尚文,"ペアリング暗号ハードウェアの相関電磁波解析に関する検討,"信学技報, pp.13-18, 2019.
78. 川上 莉穂,藤本 大介,林 優一,"複数の信号を含む漏えい電磁波からのターゲット信号の抽出に関する検討,"ソサイエティ大会, 2019.
79. 中尾 文香,藤本 大介,林 優一,"クロックへのグリッチ注入のタイミングがモータ動作に与える影響に関する基礎検討,"ソサイエティ大会, 2019.
80. 西山 輝,岡本 拓実,藤本 大介,林 優一,"意図的な電磁妨害がIC通信に与える影響に関する基礎検討,"信学技報, pp.29-33, 2019.
81. 奥秋 陽太,坂本 純一,藤本 大介,松本 勉,"パイプライン型剰余乗算器を用いたペアリング暗号のFPGA実装 ～ 集約署名の場合 ～,"信学技報, pp.157-162, 2019.
82. 鍛治 秀伍,衣川 昌宏,藤本 大介,林 優一,"電磁的情報漏えいを強制的に誘発する照射周波数推定法に関する基礎検討,"信学技報, pp.235-238, 2019.
83. 坂本 純一,衣川 昌宏,藤本 大介,林 優一,松本 勉,"無線モジュールの送信波が誘発する情報漏洩の分析,"信学技報, pp.25-29, 2019.
84. 川上 莉穂,鍛治 秀伍,衣川 昌宏,藤本 大介,林 優一,"電磁照射による意図的な情報漏えい誘発時に生ずる自己干渉波の抑制に関する基礎検討,"信学技報, pp.31-35, 2019.
85. 成松 貴,藤本 大介,林 優一,"締め付けトルクの減少が接触境界の高周波素子に与える影響に関する検討,"信学技報, pp.13-16, 2019.
86. 鍛治 秀伍,衣川 昌宏,藤本 大介,Laurent Sauvage,Jean-Luc Danger,林 優一,"製造・実装ばらつきに起因する放射スペクトルの違いを用いた電子機器の個体識別手法に関する基礎検討,"信学技報, pp.163-167, 2019.
87. 櫻澤 聡,藤本 大介,松本 勉,"ToF距離画像カメラの計測セキュリティ評価のための一指標,"信学技報, pp.283-288, 2019.
88. 井上 侑哉,野平 浩生,吉田 直樹,藤本 大介,松本 勉,"超音波距離計に対する距離偽装攻撃の成立条件,"信学技報, pp.295-299, 2019.
89. 藤本 大介,林 優一,"ToF距離センサから生ずる不要電磁放射計測に基づくセンシングタイミング推定を用いた攻撃の検討,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2019.
90. 大須賀 彩希,藤本 大介,本間 尚文,Arthur Beckers,Josep Balasch,Benedikt Gierlichs,Ingrid Verbauwhede,林 優一,"TRNG on-the-fly テストを実装したリングオシレータベースの乱数生成器への周波数注入攻撃," 暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2019.
91. 和田 慎平,藤本 大介,林 優一,"IC周囲に分布する電磁雑音を用いた電磁波解析攻撃検知手法の検討,"信学技報, pp.87-91, 2018.
92. 藤本 大介,林 優一,"超音波距離センサから生ずる不要電磁放射計測に基づくセンシングタイミング推定に関する基礎検討,"None, 2018.
93. 大須賀 彩希,藤本 大介,本間 尚文,Arthur Beckers,Josep Balasch,Benedikt Girlichs,Ingrid Verbauwhede,林 優一,"振幅確率分布を用いた真性乱数生成器の乱数性評価手法に関する基礎検討,"None, 2018.
94. Shinpei Wada,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,"Fundamental study on a detection method against EM side-channel attacks using noise distributed around a module,"信学技報, pp.67-68, 2018.
95. Saki Osuka,Daisuke Fujimoto,Naofumi Homma,Arthur Beckers,Josep Balasch,Benedikt Gierlichs,Ingrid Verbauwhede,Yuichi Hayashi,"Fundamental Study on Degradation of Randomness in TRNG Due to Intentional Electromagnetic Interference,"信学技報, pp.35-36, 2018.
96. Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi,"Study on Estimation of Sensing Timing Based on Observation of EM Radiation from Ultrasonic Range Finder,"信学技報, pp.55-56, 2018.
97. Daisuke Fujimoto,Takashi Narimatsu,Yuichi Hayashi,"Fundamental Study on the Effect of Torque Value at Connector on Equivalent Circuit of Contact Boundary,"信学技報, pp.37-41, 2018.
98. 奥秋 陽太,坂本 純一,吉田 直樹,藤本 大介,松本 勉,"パイプライン型剰余乗算器を用いたペアリング計算器における圧縮自乗算の高速化,"信学技報, pp.19-24, 2018.
99. 郡 義弘,藤本 大介,林 優一,本間 尚文,"Q-RNS MR アルゴリズムのFPGA実装時における最適な基底選択と評価,"信学技報, pp.25-30, 2018.
100. 奥秋 陽太,坂本 純一,吉田 直樹,藤本 大介,松本 勉,"パイプライン型剰余乗算器を用いたペアリング計算器のFPGA実装に対する圧縮自乗算の高速化,"ソサイエティ大会, 2018.
101. 郡 義弘,藤本 大介,林 優一,本間 尚文,"RNS Keyed モンゴメリ・リダクションアルゴリズムのFPGA実装による基礎評価,"ソサイエティ大会, 2018.
102. 硲 マーティン,衣川 昌宏,藤本 大介,林 優一,"意図的な電磁波注入による漏えい情報の制御に関する基礎検討,"ソサイエティ大会, 2018.
103. 藤本 大介,坂本 純一,奥秋 陽太,吉田 直樹,松本 勉,"最先端暗号の実装,"DAシンポジウム, 2018.
104. 鍛治 秀伍,衣川 昌宏,藤本 大介,林 優一,"ハードウェアトロイを用いた情報通信機器へのデータ注入攻撃に関する基礎検討,"信学技報, pp.49-54, 2018.
105. 成松 貴,藤本 大介,林 優一,"コネクタのトルク値が接触境界の等価回路に与える影響評価,"信学技報, pp.25-29, 2018.
106. 仁科 泉美,藤本 大介,衣川 昌宏,林 優一,"スマートデバイスからの電磁情報漏えい源特定に関する基礎検討,"信学技報, pp.83-88, 2018.
107. 岡本 拓実,藤本 大介,林 優一,本間 尚文,Arthur Beckers,Josep Balasch,Benedikt Gierlichs,Ingrid Verbauwhede,"ガウス雑音を用いた暗号機器への意図的な電磁妨害に対する耐性評価手法,"信学技報, pp.77-81, 2018.
108. 藤本 大介,林 優一,"超音波測距のなりすまし攻撃対策に向けた変調波を利用した振幅制御の検討,"信学技報, pp.55-59, 2018.
109. 櫻澤　聡,藤本 大介,松本　勉,"ToF距離画像カメラの測定パルス光なりすましに対する計測セキュリティ評価システム,"信学技報, pp.61-68, 2018.
110. 長浜 佑介,藤本 大介,坂本 純一,松本 勉,"パイプライン型剰余乗算器を用いたペアリング計算器のFPGA実装による消費エネルギー評価,"信学技報, pp.23-28, 2018.
111. 郡 義弘,藤本 大介,林 優一,三浦 典之,永田 真,崎山 一男,"レーザーフォールト攻撃対策である電源遮断回路実装時のサイドチャネル耐性評価,"ハードウェアセキュリティ研究会, 2018.
112. 鍛治 秀伍,衣川 昌宏,藤本 大介,林 優一,"HTを用いて局所的にイミュニティを低下させた電子機器へのデータ注入攻撃,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2018.
113. 大須賀 彩希,藤本 大介,林 優一,本間 尚文,Arthur Beckers,Joseph Balasch,Benedikt Gierlichs,Ingrid Verbauwhede,"サイドチャネル情報を用いた乱数生成器への非侵襲な周波数注入攻撃,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2018.
114. 藤本 大介,任 翔太,林 優一,三浦 典之,永田 真,松本 勉,"ハードウェアトロ―ジャン検出に向けたIC周辺配線のインピーダンス計測手法,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2018.
115. 長浜 佑介,藤本 大介,松本 勉,"254ビット素数BN曲線上optimal ateペアリングの圧縮自乗算による高速計算法のFPGA実装評価,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2018.
116. 相馬 一樹,坂本 純一,藤本 大介,松本 勉,"測距対象への光照射を用いたパルスLIDARの計測セキュリティ評価方法,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2018.
117. 野平 浩生,岩田 康,吉田 直樹,藤本 大介,松本 勉,"ステレオカメラの計測セキュリティに関する考察,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2018.
118. 櫻澤 聡,藤本 大介,松本 勉,"ToF距離画像カメラの計測セキュリティを評価する一方法,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2018.
119. 任 翔太,藤本 大介,林 優一,三浦 典之,永田 真,松本 勉,"インピーダンス計測に基づくICの周辺に実装されたHT検出手法の検討,"ハードウェアセキュリティフォーラム 2017, 2017.
120. 杉本 藍莉,藤本 大介,林 優一,水木 敬明,曽根 秀昭,"周波数選択による暗号機器の情報漏えい評価の効率化に関する検討,"IEICE Technical Report, , pp.63-66, 2017.
121. 藤本 大介,"暗号の高効率ハードウェア実装,"電子情報通信学会ソサエティ大会, 2017.
122. Daisuke Fujimoto,Junichi Sakamoto,"Research on Implementations of Symmetric/Asymmetric Cryptographic Algorithm,"Discussion Meeting with Dr. Adi Shamir, 2017.
123. 宮地 遼, 藤本 大介, 松本 勉 ,"ハードウェア乱数生成器に対するトロイの木馬の可能性,,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2017 .
124. 奥冨 賢哉, 坂本 純一, 吉田 直樹, 藤本 大介, 松本 勉 ,"ガウス過程に基づくテンプレート攻撃のAES実装に対する評価,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2017 .
125. 北村 健太, 藤本 大介, 松本 勉 ,"LINセキュリティ：ECU眠らせ攻撃とその対策,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2017 .
126. 野平 浩生, 藤本 大介, 宮崎 光太郎, 松本 勉 ,"超音波距離計に対する反射波打消し攻撃の実証,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2017 .
127. 相馬 一樹, 藤本 大介, 松本 勉 ,"反射光なりすまし攻撃に対する測距LIDARの計測セキュリティ,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2017 .
128. 櫻澤 聡, 藤本 大介, 松本 勉 ,"ToF距離画像カメラに対するパルス光なりすまし攻撃の実証,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2017 .
129. 清川 貴仁, 中山 淑文, 坂本 純一, 藤本 大介, 松本 勉 ,"ＣＡＮにおける電気的データ改竄に対するソフトウェア検知方式,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2017 .
130. 中山 淑文, 清川 貴仁, 藤本 大介, 松本 勉 ,"車載CANバスにおける電気的データ改竄の効果,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2017 .
131. 長浜 佑介, 藤本 大介, 松本 勉 ,"DSPブロック利用を最適化したペアリング暗号向けFPGA高速剰余乗算器,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2017 .
132. 藤本 大介, 長浜 佑介, 松本 勉 ,"2つのnビット剰余乗算の並列計算と1つの2nビット剰余乗算の計算とを選択できる乗算器の構成法,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2017 .
133. 藤本大介, 長浜佑介, 松本 勉 ,"パイプライン型剰余乗算器と逆元演算器で構成する254bit素数ペアリング計算ハードウェアの高速実装法,"信学技報, pp.223-228, 2016 .
134. 相馬一樹, 藤本大介, 松本 勉 ,"あるパルスLIDARシステムの反射光偽装に対する計測セキュリティ,"信学技報, pp.37-44, 2016.
135. 長浜佑介, 藤本大介, 松本 勉 ,"254ビット素数の自乗を位数とする有限体乗算器を32ビット単位パイプライン化モンゴメリ乗算を用いて構成するアーキテクチャ,"信学技報, pp.95-100, 2016 .
136. 本間 尚文, 林 優一, 三浦 典之, 藤本 大介, 永田 真, 青木 孝文 ,"電磁波攻撃センサの設計と実証,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2016 .
137. 石幡 大輔, 本間 尚文, 林 優一, 三浦 典之, 藤本 大介, 永田 真, 青木 孝文 ,"電磁波解析攻撃に対する反応型対策の高性能化とその評価,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2016 .
138. 藤本 大介, 照屋 唯紀, 崎山 一男, 本間 尚文, 池田 誠, 永田 真, 松本 勉 ,"並列化RNSアーキテクチャによる高速ペアリング実装に関する検討,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2016 .
139. 田中 廉大, 三浦 典之, 藤本 大介, 本間 尚文, 林 優一, 青木 孝文, 永田真 ,"サイドチャネル近傍電磁波解析攻撃センサの提案とセキュリティ耐性評価,"電子情報通信学会ソサイエティ大会, 2015 .
140. 是永 梨絵, 藤本 大介, 三浦 典之, 永田 真 ,"電源電流イコライザの電力オーバーヘッド低減手法の提案と実証,"電子情報通信学会ソサイエティ大会, 2015 .
141. 石幡 大輔, 本間 尚文, 林 優一, 三浦 典之, 藤本 大介, 永田 真, 青木 孝文 ,"暗号LSIへの実装攻撃に対する反応型対策の高精度化に関する検討,"電気関係学会東北支部連合大会講演論文集, 2015.
142. 藤本 大介 ,"暗号処理回路への近傍電磁波解析攻撃を検知する完全デジタル発振器型センサ,"LSIとシステムのワークショップ, 2015.
143. 三浦典之, 藤本大介, 永田 真 ,"サイドチャネル情報漏洩対策のための集積回路技術,"信学技報, pp.9-14, 2014 .
144. 三浦典之, 道正志郎, 藤本大介, 桐山卓弥, 手塚宏行, 三木拓司, 永田 真 ,"二段階デュアルモード容量スキャン方式を用いた1mm-Pitch 80x80-Channel 322Hz-Frame-Rateタッチセンサの設計,"信学技報, pp.7-12, 2014.
145. 藤本大介, 三浦典之, 永田 真, 林 優一, 本間尚文, シバム バシーン, ジャンルック ダンジェ ,"CMOS暗号回路におけるシリコン基板からのサイドチャネル漏洩,"信学技報, pp.1-6, 2014 .
146. 藤本 大介, 田中 大智, 三浦 典之, 永田 真, 林 優一, 本間 尚文, 青木 孝文, 堀 洋平, 片下 敏広, 﨑山 一男, Thanh-Ha Le, Julien Bringer, Pirouz Bazargan-Sabet,"チップ内外での電源電圧取得によるサイドチャネル漏洩情報の一考察,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2014 .
147. 遠藤 翔, 李 陽, 本間 尚文, 崎山 一男, 藤本, 永田 真, 太田 和夫, 青木 孝文 ,"故障感度隠蔽のための効率的な対策とその評価,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2013 .
148. 田中 大智, 藤本 大介, 永田 真 ,"容量充電モデルを用いたシミュレーションによる相関電力解析の考察,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2013 .
149. 藤本 大介, 田中 大智, 永田 真 ,"容量充電モデルを用いたシミュレーションによるサイドチャネル情報漏洩探索手法,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2013 .
150. 藤本 大介, 片下 敏広, 佐々木 明彦, 堀 洋平, 佐藤 証, 永田 真 ,"容量充電モデルを用いた高速なサイドチャネル攻撃評価手法,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2012 .
151. 片下 敏宏, 佐藤 証, 永田 真, 藤本 大介 ,"暗号LSIの電源ノイズシミュレーションによるサイドチャネル解析,"マルチメディア,分散,協調とモバイル, 2010.
152. 片下 敏宏, 佐藤 証, 永田 真, 藤本 大介, 菊地 克弥, 仲川 博, 青柳 昌宏 ,"サイドチャネル標準シミュレーションモデル構築に向けた標準評価ボードのDPA特性測定,"暗号と情報セキュリティシンポジウム, 2010 .
153. 藤本大介, 松野哲郎, 小坂大輔, 濱西直之, 田邉 顕, 塩地正純, 永田 真 ,"65nmCMOSテクノロジによる6bit任意デジタル雑音エミュレータの開発,"信学技報, pp.7-10, 2009.